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| 亚像素级细分在CCD光靶中的应用研究 | |
| 作者姓名： | 吕海雷 雷志勇 王泽民 |
| 作者单位： | 西安工业大学电子信息工程学院,西安,710032 |
| 摘 要： | 由高速线阵CCD相机基于交汇原理组成的弹丸立靶坐标、射击密集度测试系统,其测试精度与弹丸图像的边缘位置密切相关,弹丸穿过大靶面的边缘区域时成像模糊,其灰度值呈连续变化状态,常用的图像边缘检测算子已经不能适应这种情况.对8 m×8 m的靶面,一个像素就会在物方最大引起±10 mm的测试误差.将Sobel边缘检测算子的粗检测定位与三次样条函数差值的细检测相结合,先用sobel算子粗检测,再构建三次样条函数,利用三次样条插值对弹丸图像边缘进行亚像素级细分.实弹射击试验结果证明,这种方法能够将系统的最大测试误差降低到±2.5 mm. |
| 关 键 词： | 亚像素细分 三次样条插值 多尺度边缘检测 线阵CCD光靶 |
| 收稿时间： | 2007-11-01 |
| 修稿时间： | 2007-11-01 |
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