双晶衍射研究O2^+注入Si |
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作者姓名: | 马德录 苏铁力 |
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作者单位: | Ma Delu Shu Tieli Wang Yuenan Huang Xiaoling Department of Physics,Liaoning University |
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摘 要: | 本文用双晶衍射给出了O_2 ̄+注入Si的摇摆曲线.用Levenberg—Marguarat法模拟实验曲线,根据x射线衍射的运动学理论,计算了O_2 ̄+注入Si后,晶格应变随注入深度、注入剂量和退火温度的变化.我们还给出了O_2 ̄+注入Si的椭偏参数、△,并将它们换算成折射率n.结果表明,O_2 ̄+注入Si引起晶体微观结构的变化—晶格应变与晶体宏观光学性质—折射率的变化基本上一致.
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关 键 词: | 离子注入 双晶衍射 折射率 硅 |
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