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杂志ISSN号
α—AL2O3单晶体的X射线衍射仪法分析
作者姓名:
马胜利 郭振琪
摘 要:
以α-AL2O3单晶体为例,探索了现代X射线衍射仪法分析技术在晶体取向和晶向偏离角测试方面 应用。采用方法测试的晶面的晶向偏离角为ψ=4.97°。经TEM电子衍射菊池线测试晶面晶向偏离角Δθ=5.11°,误差小于0.2°。表明本文提出珠X射线衍射法测试单晶体向偏离角具有简捷,精确及可靠性高的优点。
关 键 词:
单晶体 X射线衍射法 晶向偏离角
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