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| α—AL2O3单晶体的X射线衍射仪法分析 | |
| 引用本文： | 马胜利,郭振琪.α—AL2O3单晶体的X射线衍射仪法分析[J].西安理工大学学报,1996,12(4):303-306. |
| 作者姓名： | 马胜利 郭振琪 |
| 摘 要： | 以α－ＡＬ２Ｏ３单晶体为例，探索了现代Ｘ射线衍射仪法分析技术在晶体取向和晶向偏离角测试方面 应用。采用方法测试的晶面的晶向偏离角为ψ＝４．９７°。经ＴＥＭ电子衍射菊池线测试晶面晶向偏离角Δθ＝５．１１°，误差小于０．２°。表明本文提出珠Ｘ射线衍射法测试单晶体向偏离角具有简捷，精确及可靠性高的优点。 |
| 关 键 词： | 单晶体 X射线衍射法 晶向偏离角 |
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