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| 论单片机应用系统的可靠性技术 | |
| 引用本文： | 濮素.论单片机应用系统的可靠性技术[J].科技信息,2013(13):110-110,127. |
| 作者姓名： | 濮素 |
| 作者单位： | 青岛唯美德科美容科技股份有限公司研发分公司,江苏南京210000 |
| 摘 要： | 针对破坏系统正常运行的来自供电系统现场环境的过程通道等方面干扰,利用硬件和软件抗干扰措施,使单片机系统更加可靠运行。 |
| 关 键 词： | 单片机应用 抗干扰设计 技术 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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