| 显微干涉图象的计算机检测与处理方法 |
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| 引用本文： | 邹文栋,何兴道,万雄,彭争.显微干涉图象的计算机检测与处理方法[J].江西科学,2003,21(4):284-287. |
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| 作者姓名： | 邹文栋 何兴道 万雄 彭争 |
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| 作者单位： | 南昌航空工业学院测控系,江西,南昌,330034 |
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| 基金项目： | 2001年江西省教育厅科技项目资助 |
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| 摘 要： | 介绍一种基于静态干涉术的微表面显微干涉计算机自动检测系统，给出用数字图象处理技术对干涉条纹进行处理的原理步骤，并推导了用最小二乘法拟合提取显微干涉条纹特征信息的算法以及由此获取微表面几何参数和粗糙等参数的方法。
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| 关 键 词： | 显微干涉图象 计算机检测 静态干涉术 微表面 数字图象处理 最小二乘法 算法 |
| 文章编号： | 1001-3679(2003)04-0284-04 |
Computer Measuring and Processing of Microscopic Interferogram |
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| ZOU Wen_dong,HE Xin_dao,WAN Xiong,PENG Zheng.Computer Measuring and Processing of Microscopic Interferogram[J].Jiangxi Science,2003,21(4):284-287. |
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| Authors: | ZOU Wen_dong HE Xin_dao WAN Xiong PENG Zheng |
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| Institution: | ZOU Wen_dong~1,HE Xin_dao~1,WAN Xiong~1,PENG Zheng~2 |
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| Abstract: | An interference microscopic auto-measuring system which is based on static interferometry is described. The principles and steps for processing the interference fringes with digital image processing techniques are given. An algorithm for interfereogram characteristic information extracting with the method of standard least-square fitting is proposed,and hereby the way to obtain the geometric parameters and roughness of a micro-surface is derived. |
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| Keywords: | Micro surface Interference microscopy Processing algorithm |
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