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AlN能带及态密度的密度泛函理论研究
引用本文:王腊节,聂招秀,刘德政.AlN能带及态密度的密度泛函理论研究[J].四川理工学院学报(自然科学版),2010,23(4):411-413.
作者姓名:王腊节  聂招秀  刘德政
作者单位:1. 南昌大学共青学院,江西,九江,332020
2. 重庆大学数理学院,重庆,400030
摘    要:文章采用基于密度泛函理论的平面波超软赝势法计算了A lN晶体的能带结构和态密度曲线。研究表明,A lN的价带由-15.3eV--12.3eV的下价带和-6.2eV-0eV的上价带区组成,价带顶出现三个子带:简并的重空穴、轻空穴和自旋-轨道耦合所分裂出来的劈裂带(距带顶0.2eV);导带主要是由A l的3s、3p态电子和N的2p态电子构成的;理论预测A lN价带空穴具有大的有效质量;A lN是一种直接宽禁带半导体,带隙为4.7eV,比较起来该结果优于一些文献中的计算值。

关 键 词:AlN  能带  能隙  密度泛函理论

Density Functional Theory Study on Energy Band and Density of States of AlN
WANG La-Jie,NIE Zhao-Xiu,LIU De-Zheng.Density Functional Theory Study on Energy Band and Density of States of AlN[J].Journal of Sichuan University of Science & Engineering:Natural Science Editton,2010,23(4):411-413.
Authors:WANG La-Jie  NIE Zhao-Xiu  LIU De-Zheng
Abstract:
Keywords:AlN
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