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| 电子设备的环境试验现状及趋势 | |
| 引用本文： | 吴德璧.电子设备的环境试验现状及趋势[J].科学通报,1965,10(3):242-242. |
| 作者姓名： | 吴德璧 |
| 作者单位： | 吴德璧 |
| 摘 要： | 一概述环境试验,是指将设备放在预定的环境条件下,进行性能考验,以及鉴定和预测的一种试验。试验的主要目的力证实试品在其未来应用时所处环境中的性能,以保证电子设备使用时的可靠性。试验时试品所处之环境,可以选用自然的真实环境,进行实地试验,亦可采用人工的办法,进行模拟试验,前者周期长,受客观条件限制;后者可在试验室中进行,并能大大加速试验周期,同时可重复地进行试验,但缺点是目前的模拟条件还不能综合地等效实际环境的影响。但只要科学地对实际环境进行模拟,合理地选择试验方法及设备 同 |
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