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用二相双列线阵CCD器件实时采集衍射图样
引用本文:陈飞明,曹万民,韩苏雷,杨会霞.用二相双列线阵CCD器件实时采集衍射图样[J].河南科技大学学报(自然科学版),2001,22(3):83-85.
作者姓名:陈飞明  曹万民  韩苏雷  杨会霞
作者单位:1. 洛阳工学院数理系
2. 中国一拖集团有限公司
摘    要:采用二相双列线阵CCD器件 ,配以CCD专用采集卡 ,对He -Ne激光经双缝所生成的夫琅和费衍射图样进行了实时采集与测量。介绍了该方法的结构原理、实验装置和测量要求。通过将测量值与理论值比较 ,发现采用微机测量双缝衍射光强分布规律不仅速度快 ,而且测量准确度高

关 键 词:夫琅和费衍射  CCD器件  光强度测量  实时采集  衍射图
文章编号:1000-5080(2001)03-0083-03
修稿时间:2001年6月20日

Collecting Diffraction Patterns with Two-phase Double-rows Linear Array CCD Apparatus
CHEN Fei Ming ,CAO Wan Min ,HAN Su Lei ,YANG Hui Xia.Collecting Diffraction Patterns with Two-phase Double-rows Linear Array CCD Apparatus[J].Journal of Henan University of Science & Technology:Natural Science,2001,22(3):83-85.
Authors:CHEN Fei Ming  CAO Wan Min  HAN Su Lei  YANG Hui Xia
Institution:CHEN Fei Ming 1,CAO Wan Min 1,HAN Su Lei 1,YANG Hui Xia 2
Abstract:Using a two phase double rows linear array CCD apparatus,along with a special collecting card,Frauhofer diffraction patterns formed by He Ne laser through double seams were collected and measured.This paper presented the principle,the experiment device and the measuring requirement.This method has the advantage of high accuracy and speed.
Keywords:Fraunhofer diffraction  CCD apparatus  Luminous intensity measurement  Live collecting  Diffraction patterns
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