| 双极晶体管储存寿命的1／f噪声预测方法 |
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| 引用本文： | 庄奕琪 孙青. 双极晶体管储存寿命的1／f噪声预测方法[J]. 应用科学学报, 1996, 14(4): 409-414 |
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| 作者姓名： | 庄奕琪 孙青 |
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| 作者单位： | 西安电子科技大学 |
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| 摘 要： | 针对小功率双极晶体管进行的存寿命试验和噪声测试结果表明，该器材在储存条件耻的主要失效模式是电流放大数β的退化。β随时间的减少量与其初始１／ｆ噪声电流具有强相关性，近似呈对数正比关系，由此提出了利用１／ｆ噪声测量对双极晶体管储存寿命进行快速无损评价的新方法。
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| 关 键 词： | 双极晶体管 储存寿命 噪声预测 寿命试验 |
1/f NOISE AS A PREDICTION OF THE STORAGE LIFETIME FOR BIPOLAR TRANSISTORS |
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| ZHUANG YIQI, SUN QING. 1/f NOISE AS A PREDICTION OF THE STORAGE LIFETIME FOR BIPOLAR TRANSISTORS[J]. Journal of Applied Sciences, 1996, 14(4): 409-414 |
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| Authors: | ZHUANG YIQI SUN QING |
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| Affiliation: | Xidian University |
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| Keywords: | f noise bipolar transistor storage lifetime degradation |
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