| 基于原子力显微镜的CD/DVD表面形貌检测 |
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| 引用本文： | 孙志,罗胜耘,樊永发.基于原子力显微镜的CD/DVD表面形貌检测[J].吉首大学学报(自然科学版),2006,27(3):55-56. |
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| 作者姓名： | 孙志 罗胜耘 樊永发 |
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| 作者单位： | （1.贵州大学光电子技术及应用贵州省重点实验室，贵州 贵阳 550025；2.贵州大学光电子信息功能材料实验室，贵州 贵阳 550025） |
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| 摘 要： | 利用原子力显微镜对光盘(CD)和数字通用光盘(DVD)表面结构进行三维检测，使用CSPM-2000 Imager软件计算和分析扫描得到的图像.结果显示，高存储容量的DVD光盘将取代CD光盘成为外存的主流.
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| 关 键 词： | 原子力显微镜 光盘 数字通用光盘 道间距 |
| 文章编号： | 1007-2985（2006）03-0055-02 |
| 收稿时间： | 2006-02-19 |
| 修稿时间： | 2006-02-19 |
Detection of CD/DVD Surface by Atomic Force Microscope |
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| SUN Zhi,LUO Sheng-yun,FAN Yong-fa.Detection of CD/DVD Surface by Atomic Force Microscope[J].Journal of Jishou University(Natural Science Edition),2006,27(3):55-56. |
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| Authors: | SUN Zhi LUO Sheng-yun FAN Yong-fa |
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| Institution: | (1.Hangzhou Radio & TV University,Hangzhou 310016,China;2.Zhejiang Zhonghao Engineering Monitoring Ltd.，Hangzhou 310016,China) |
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| Abstract: | By atomic force microscope,the surface pattern of compact disc(CD) and digital versatile disc(DVD) are scanned and the images are analyzed with CSPM-2000 imager software.The result shows that DVD will replace CD to dominate in storage medium. |
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| Keywords: | atomic force microscope compact disc digital versatile disc line distance |
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