| 基于改进FDR算法的SOC测试编码方法 |
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| 引用本文： | 廖红,余燕.基于改进FDR算法的SOC测试编码方法[J].湖南师范大学自然科学学报,2008,31(3). |
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| 作者姓名： | 廖红 余燕 |
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| 作者单位： | 1. 武汉理工大学理学院,中国武汉,430070
2. 中南大学物理科学与技术学院,中国长沙,410083 |
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| 摘 要： | 针对集成电路测试数据的特点,提出一种改进FDR压缩、解压算法.它采用对预先计算的测试集中的"0"和"1"的长度进行交替编码的方式来压缩测试集,提高了编码效率.提出的测试数据压缩方案的解码器硬件结构非常简单,并提出了一种基于有限状态机的FDR解压缩算法的实现方案,只需极少的电路资源即可实现.仿真实验结果表明,改进FDR编码算法的数据压缩效果在大多数情况下,优于游程编码和FDR编码.
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| 关 键 词： | 测试集 游程编码 |
An Improved FDR Algorithm for Encoding Test-Data of SOC |
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| LIAO Hong,YU Yan.An Improved FDR Algorithm for Encoding Test-Data of SOC[J].Journal of Natural Science of Hunan Normal University,2008,31(3). |
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| Authors: | LIAO Hong YU Yan |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ATE |
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