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| 用伴随粒子技术测量盖革—弥勒计数管快中子灵敏度 | |
| 引用本文： | 张棣,李根长.用伴随粒子技术测量盖革—弥勒计数管快中子灵敏度[J].四川大学学报(自然科学版),1990,27(2):184-189. |
| 作者姓名： | 张棣 李根长 |
| 作者单位： | 四川大学原子核科学技术研究所 (张棣，贾靓，张增志)，中国测试技术研究院 (李根长，罗家治，张有德，钟鸣)，中国测试技术研究院(朱崇全) |
| 摘 要： | 用伴随粒子技术测量了GM—2型盖革——弥勒计数管对14.7MeV快中子的灵敏度,给出了测量结果.介绍了为克服加速器束流不稳而产生系统误差的一种实验数据处理方法. |
| 关 键 词： | 快中子 灵敏度 测量 计数管 G－M |
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