| Gd2O3-MgF2膜的正电子湮没研究 |
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| 引用本文： | 官月英,史子康.Gd2O3-MgF2膜的正电子湮没研究[J].应用科学学报,2000,18(1):55-57. |
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| 作者姓名： | 官月英 史子康 |
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| 作者单位： | 中国科学院福建物质结构研究所, 福建福州 350002 |
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| 摘 要： | 用22Na正电子湮没寿命谱学法检测石英片上Gd2O3-MgF2膜.阐明了正电子湮没参数和膜结构的关系.
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| 关 键 词： | 膜 质量 正电子湮没 |
| 收稿时间： | 1998-07-06 |
| 修稿时间： | 1999-03-24 |
A Study on the Gd2O3-MgF2 Film by Positron Annihilation Life Spectroscopy |
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| GUAN Yue-ying,SHI Zi-kang.A Study on the Gd2O3-MgF2 Film by Positron Annihilation Life Spectroscopy[J].Journal of Applied Sciences,2000,18(1):55-57. |
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| Authors: | GUAN Yue-ying SHI Zi-kang |
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| Institution: | Fujian Institute of Research on Structure of Matter, Academia Sinica, Fuzhou 350002, China |
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| Abstract: | In this paper,the quality of Gd 2O 3 MgF 2 film on thin quartz slice is determined by positron annihilation life spectroscopy. It illuminates the relationship between positron annihilation parameters and film structure. |
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| Keywords: | film positron annihilation quality |
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