|
|||||
|
|
| 测试环境对被测器件(DUT)的影响 | |
| 引用本文： | 张宇,逯贵祯.测试环境对被测器件(DUT)的影响[J].中国传媒大学学报,1998(2). |
| 作者姓名： | 张宇 逯贵祯 |
| 作者单位： | 广播电视传输系 |
| 摘 要： | 本文使用数值分析方法研究测试环境对被测器件（ＤＵＴ）的影响。采用ＴＬＭ（传输线模型）方法对不同测试环境中被测器件表面的电场分布进行了计算。数值结果表明，环境确实对被测器件表面的场分布有影响，尤其是对于不能被考虑为电小尺寸的器件更甚。因此，当对非电小尺寸的器件进行电磁兼容性测试时，需要仔细考虑以减少测试误差。 |
| 关 键 词： | TLM数值方法 电磁兼容测量 屏蔽室 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |