射频磁控溅射二氧化硅薄膜的工艺探讨 |
| |
引用本文: | 叶光,林志贤,等.射频磁控溅射二氧化硅薄膜的工艺探讨[J].龙岩师专学报,2002,20(6):44-45,48. |
| |
作者姓名: | 叶光 林志贤 |
| |
摘 要: | 介绍了在玻璃衬底上射频磁控溅射SiO2薄膜的工艺技术,给出了薄膜淀积速率,膜内组分与工艺条件特别是溅射气压的关系。实验证明,和其他镀膜技术相比,射频磁控溅射可以在更低的温度下制备致密、均匀、重复性好的SiO2薄膜。
|
关 键 词: | 射频磁控溅射 二氧化硅薄膜 SiO2薄膜 淀积速率 制备工艺 集成电路 |
本文献已被 维普 等数据库收录! |
|