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干涉图样变化分析
引用本文:李建全.干涉图样变化分析[J].枣庄师专学报,2005,22(5):16-19.
作者姓名:李建全
作者单位:枣庄学院物理与电子工程系,山东枣庄277160
摘    要:光的干涉装置发生变化时,其干涉图样亦发生变化,本文通过对干涉条纹形状、条数、疏密等的变化及移动方向的定性分析,总结了分析这类问题的一般方法,表明了解决该问题的关键在于分析光程差.

关 键 词:光的干涉  干涉图样  条纹变化  相位差  光程差
文章编号:1004-7077(2005)05-0016-04
收稿时间:2005-03-29
修稿时间:2005年3月29日

Analysis on Changes of Interference Pattern
LI Jian-quan.Analysis on Changes of Interference Pattern[J].Journal of Zaozhuang Teachers' College,2005,22(5):16-19.
Authors:LI Jian-quan
Institution:Zaozhuang University, Zaozhuang 277160, China
Abstract:When the interferometer of light changes, the interference pattern also changes. Through qualitative analysis on the shift direction of fringes and the changes of fringe form, quantity, density, etc, this text summarize the general method to analyze this kind of questions, indicating that the key of solving this question lies on analyzing optical path difference.
Keywords:interference of light  interference pattem  changesenceof the fringes  phase difference  optical path difference
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