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等离子微弧氧化膜的抗静电特性
引用本文:来永春,吴晓玲,施修龄,华铭,杜建成.等离子微弧氧化膜的抗静电特性[J].北京师范大学学报(自然科学版),2004,40(3):347-349.
作者姓名:来永春  吴晓玲  施修龄  华铭  杜建成
作者单位:北京师范大学低能核物理研究所,北京市辐射中心,100875,北京;北京师范大学低能核物理研究所,北京市辐射中心,100875,北京;北京师范大学低能核物理研究所,北京市辐射中心,100875,北京;北京师范大学低能核物理研究所,北京市辐射中心,100875,北京;北京师范大学低能核物理研究所,北京市辐射中心,100875,北京
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:等离子体微弧氧化技术可以在铝合金表面原位生长20~200μm的陶瓷氧化膜,该膜具有很高的硬度,大大改善铝合金表面的耐磨、耐蚀特性.对于某些抗静电要求较高的电子元件,除需有较高的耐磨、耐蚀特性外,还要求表面电阻控制在106~1010 Ω之间.通过对氧化膜厚度的调整,可有效地控制表面电阻的大小,从而满足抗静电要求.

关 键 词:等离子体微弧氧化  抗静电  特性
修稿时间:2003年11月21日

THE ANTIELECTROSTATICS OF THE CERAMIC OXIDATION FILMS BY PLASMA MICRO-ARC OXIDATION TECHNIQUE
Lai Yongchun,Wu Xiaoling,Shi Xiuling,Hua Ming,Du Jiancheng.THE ANTIELECTROSTATICS OF THE CERAMIC OXIDATION FILMS BY PLASMA MICRO-ARC OXIDATION TECHNIQUE[J].Journal of Beijing Normal University(Natural Science),2004,40(3):347-349.
Authors:Lai Yongchun  Wu Xiaoling  Shi Xiuling  Hua Ming  Du Jiancheng
Abstract:
Keywords:plasma micro-arc oxidation  antielectrostatic property  ceramic coatings
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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