基于偏振图像的雪地伪装材料检测技术研究

以雪地为背景,根据不同的伪装样本,开展了基于偏振图像的检测研究。使用光电耦合器件(Complementary metal oxide semiconductor, CMOS)获取物体表面反射光的偏振信息,通过分析和计算,获得反映物体表面状态的偏振度图像和偏振角图像。利用偏振角图像、偏振度图像的灰度平均值和灰度标准差值,论证了雪地与样本#1～#5之间在可见光图像、偏振角图像与偏振度图像的区别。根据巴氏距离求得雪地与样本#1～#5间的相似度,得到相似度最高的材质、相似度最低的材质。研究表明,此结果对雪地伪装装备的设计和研制具有一定的参考价值,为识别融入雪地的伪装材料提供有效的解决办法。