| 电子辐照GaInP/GaAs/Ge三结太阳电池短路电流退化机制研究 |
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| 引用本文： | 齐佳红,胡建民.电子辐照GaInP/GaAs/Ge三结太阳电池短路电流退化机制研究[J].哈尔滨师范大学自然科学学报,2015,31(4). |
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| 作者姓名： | 齐佳红 胡建民 |
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| 作者单位： | 哈尔滨师范大学 |
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| 基金项目： | 黑龙江省教育厅科学技术研究项目 |
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| 摘 要： | 应用PC1D程序拟合1 Me V电子辐照后Ga In P/Ga As/Ge太阳电池的光谱响应得到少数载流子扩散长度随辐照电子注量的变化关系.结果表明:少数载流子(少子)扩散长度随辐照电子注量增加而减小,少数载流子扩散长度的缩短是太阳电池短路电流退化的主要原因.
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| 关 键 词： | GaInP/GaAs/Ge太阳电池 电子辐照 PC1D程序 损伤效应 |
Study on the Mechanism of Short Circuit Current Degradation of GaInP/GaAs/Ge Solar Cell under Electron Irradiation |
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| Qi Jiahong,Hu Jianmin.Study on the Mechanism of Short Circuit Current Degradation of GaInP/GaAs/Ge Solar Cell under Electron Irradiation[J].Natural Science Journal of Harbin Normal University,2015,31(4). |
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| Authors: | Qi Jiahong Hu Jianmin |
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