X射线形貌学 |
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引用本文: | 麦振洪.X射线形貌学[J].自然杂志,1985(3). |
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作者姓名: | 麦振洪 |
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作者单位: | 中国科学院物理研究所 |
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摘 要: | 《X射线形貌学》一文,介绍一项观察晶体材料缺陷的新技术——X射线形貌术的机理、优点及在缺陷(包括点缺陷、线缺陷、面缺陷)研究、点阵参数测量、工艺控制等方面的主要应用情况;并对于各种不同形式的形貌技术(诸如柏尔格-白瑞特反射形貌术、郎氏透射形貌术、双晶形貌术、异常透射形貌术、同步辐射形貌术)分别予以简洁的讨论。文中选用若干晶体的形貌图象照片予以说明,看来颇觉直观形象。
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