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| 用表面光伏法测定Ⅲ-Ⅴ族化合物少子扩散长度 | |
| 作者姓名： | 陈朝 沈顗华 |
| 作者单位： | 厦门大学物理学系(陈朝)，厦门大学物理学系(沈顗华) |
| 摘 要： | 本文用表面光伏(SPV)法测定了不同掺杂的Ⅲ-Ⅴ族化合物(n型GaAs、GaP和InP)较小的少子扩散长度。SPV法和扫描电镜法的相对误差小于±5％。比较了三种SPV法的测量精度,发现由本文提出的等光强法较好,讨论了SPV法应用条件和产生测量误差的主要因素。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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