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基于Halcon的圆形陶瓷片表面缺陷检测方法
引用本文:贺潇,苏彩红,詹宁宙,林军帆,梁智宇.基于Halcon的圆形陶瓷片表面缺陷检测方法[J].佛山科学技术学院学报(自然科学版),2021(2):28-32.
作者姓名:贺潇  苏彩红  詹宁宙  林军帆  梁智宇
摘    要:针对圆形陶瓷片的产品特性以及厂家检测的需要,设计了一种基于Halcon平台的表面缺陷分区检测算法.通过前期预处理中的灰度化、图像增强处理以及ROI的选取后,再针对不同缺陷分别采用阈值分割、极坐标转换及边缘提取等方法获取产品缺陷区域并进行检测.实验结果证明本检测算法具有较高的准确性,并能较好地满足实际检测要求.

关 键 词:缺陷检测  Halcon  阈值分割  边缘提取
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