基于Halcon的圆形陶瓷片表面缺陷检测方法 |
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引用本文: | 贺潇,苏彩红,詹宁宙,林军帆,梁智宇.基于Halcon的圆形陶瓷片表面缺陷检测方法[J].佛山科学技术学院学报(自然科学版),2021(2):28-32. |
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作者姓名: | 贺潇 苏彩红 詹宁宙 林军帆 梁智宇 |
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摘 要: | 针对圆形陶瓷片的产品特性以及厂家检测的需要,设计了一种基于Halcon平台的表面缺陷分区检测算法.通过前期预处理中的灰度化、图像增强处理以及ROI的选取后,再针对不同缺陷分别采用阈值分割、极坐标转换及边缘提取等方法获取产品缺陷区域并进行检测.实验结果证明本检测算法具有较高的准确性,并能较好地满足实际检测要求.
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关 键 词: | 缺陷检测 Halcon 阈值分割 边缘提取 |
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