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AP—MOCVD GaN材料生长特性
引用本文:赵佰军,缪国庆.AP—MOCVD GaN材料生长特性[J].吉林大学自然科学学报,1997(2):59-62.
作者姓名:赵佰军  缪国庆
摘    要:研究低温生长GaN过渡层(缓冲层)在AP-MOCVD生长GaN材料过程的作用,探讨了过渡层的生长温度、时间、氮化时间等参数对GaN材料晶体质量的影响,通过对过渡层的特性参数的分析、优化、获得了X射线双晶衍射半峰宽为6‘的GaN外延层。

关 键 词:MOCVD  过渡层  氮化镓  LED
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