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SDRAM控制器设计及信号测试
引用本文:黎俊. SDRAM控制器设计及信号测试[J]. 武汉科技大学学报(自然科学版), 2006, 29(6): 596-598
作者姓名:黎俊
作者单位:武汉科技大学信息科学与工程学院,湖北,武汉,430081
摘    要:分析了同步动态随机存储器的特点和控制原理,实现了一种基于现场可编程门阵列的SDRAM控制器的设计方案,给出了一种利用嵌入式逻辑分析仪SignalTapⅡ分析测试SDRAM信号的方法。

关 键 词:SDRAM控制器  现场可编程门阵列(FPGA)  SignalTapⅡ
文章编号:1672-3090(2006)06-0596-03
收稿时间:2006-05-15
修稿时间:2006-05-15

Design of SDRAM Controller and Signal Test
LI Jun. Design of SDRAM Controller and Signal Test[J]. Journal of Wuhan University of Science and Technology(Natural Science Edition), 2006, 29(6): 596-598
Authors:LI Jun
Affiliation:College of Information Science and Engineering, Wuhan University of Science and Technology, Wuhan 430081, China
Abstract:This article analyzes the characteristics and control principle of the SDRAM.The design of SDRAM controller by means of FPGA is described,and the testing of SDRAM signal using SignalTap II is given,too.
Keywords:SDRAM controller  FPGA  SignalTap II
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