| 铒浓度对ZnS薄膜DCEL的影响 |
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| 引用本文： | 王余姜,柳兆洪.铒浓度对ZnS薄膜DCEL的影响[J].厦门大学学报(自然科学版),1995,34(2):177-181. |
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| 作者姓名： | 王余姜 柳兆洪 |
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| 摘 要： | 用直接掺杂法和ＸＰＳ谱法研究ＺｎＳ：Ｃｕ，Ｃｌ，Ｅｒ中铒离子的体浓度及纵向分布对器件发光的影响，测量了Ｅｒ￣３＋的￣２Ｈ＿ｌｌ／ｌ２，跃迁与温度的关系，对硫化锌薄膜器件中Ｅｒ￣３＋发光的电激发过程提出新见解．
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| 关 键 词： | 掺杂，x射线光电子谱 |
Innunce on DCEL of Concentration of Metal Er in Doped ZnS Thin Film |
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| Wang Yujiang,Liu Zhaohong.Innunce on DCEL of Concentration of Metal Er in Doped ZnS Thin Film[J].Journal of Xiamen University(Natural Science),1995,34(2):177-181. |
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| Authors: | Wang Yujiang Liu Zhaohong |
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| Institution: | Dept. of Phys. |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Dope X-ray induced photo-electron spectroscopy |
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