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| 可满足性求解方法在SoC验证和测试中的应用 | |
| 摘 要： | 介绍可满足性(SAT)求解方法在向量自动生成、符号模型检查和组合电路等价性检查等在电子设计自动化(Electronic Design automation,EDA)研究领域中的应用,阐述SoC芯片验证和测试采用可满足性(SAT)方法进行解决的原理.满足性(SAT)求解方法可有效地减少验证和测试所需时间,提高SoC芯片设计的效率和可靠性. |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |
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