| 分子印迹CS@SiO2聚合物吸附性能评价 |
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| 引用本文： | 吴振岳,马秀玲,黄丽梅,曾宝珊,陈盛.分子印迹CS@SiO2聚合物吸附性能评价[J].福建师范大学学报(自然科学版),2014(2):64-69. |
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| 作者姓名： | 吴振岳 马秀玲 黄丽梅 曾宝珊 陈盛 |
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| 作者单位： | 福建师范大学环境科学与工程学院;福建师范大学化学与化工学院;福建师范大学福清分校; |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(21207018);福建省教育厅资助项目(B070102) |
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| 摘 要： | 以壳聚糖为功能体,柚皮苷为印迹分子,将壳聚糖负载到二氧化硅(CS@SiO2)上,制成柚皮苷(NG)印迹CS@SiO2,用XRD、FT-IR、SEM等测试技术对该印迹聚合物进行分析表征,探讨了印迹CS@SiO2对印迹分子柚皮苷的吸附特性.实验表明,印迹聚合物的吸附特性优于非印迹聚合物.分别用Langmuir和Freundlich等温吸附模型拟合印迹CS@SiO2对NG的吸附等温线,印迹CS@SiO2对NG的吸附符合Langmuir吸附等温方程.印迹聚合物对印迹分子的印迹效率α为1.74,采用橙皮苷作竞争性吸附底物,选择因子β为2.00.
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| 关 键 词： | 壳聚糖 二氧化硅纳米粒子 柚皮苷 分子印迹 |
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