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| 基于单片机的半导体激光器参数测试技术的研究 | |
| 引用本文： | 郭洪岩,赵洪昌.基于单片机的半导体激光器参数测试技术的研究[J].科技信息,2008(33):94-95. |
| 作者姓名： | 郭洪岩 赵洪昌 |
| 作者单位： | 山东大学物理学院;滨州学院;惠民县何坊第一中学; |
| 摘 要： | 随着半导体激光器（LD）参数测试技术需求的日益加大,提出了一种新型的半导体激光器PIV特性的测试方法。采用华邦51系列单片机（SCM）W78E58BP作为控制核心,实现高稳定度的LD连续及脉冲驱动、恒流控制及功率、电压采集。 |
| 关 键 词： | 半导体激光器(LD) 单片机 PIV 参数测试技术 |
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