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有关MOS低温工作寿命的传统结论被推翻

引用本文：	张其嫒.有关MOS低温工作寿命的传统结论被推翻[J].国外科技消息,1992(5):5-5.

作者姓名：	张其嫒

摘要：
关键词：	金属氧化物半导体 MOS 低温工作寿命波道长
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