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分类号
杂志ISSN号
用吸收光谱计算a-Si:H带隙态密度分布
作者姓名:
阎锐
刘克源
许侃
作者单位:
西北大学物理系(阎锐,刘克源),西北大学物理系(许侃)
摘 要:
依据a—Si:H薄膜的吸收光谱与带隙态密度之间的关系,本文提出了用吸光收谱的精细结构计算带隙态密度和它的分布的方法。
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