点光栅化及反走样算法的研究与实现 |
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作者姓名: | 王媛媛 韩俊刚 蒋林 张娜 |
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作者单位: | 西安邮电大学电子工程学院;西安邮电大学计算机学院;西安邮电大学研究生部 |
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基金项目: | 国家自然科学基金重点项目(61136002) |
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摘 要: | 图形处理器流水线中经典的点生成算法和点反走样算法便于实现,但采样点测试的计算量大并且存在冗余测试,为此提出了多采样扫描转换算法。该算法将多采样集中在边界片元,同时,利用点区别于其他图元的对称特性,减少了采样点的冗余测试,提高了多采样时扫描转换的性能。试验结果表明:文中算法在较小代价下达到了同样的反走样性能。
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关 键 词: | 点图元 光栅化 反走样 图形处理器 |
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