摘 要: | 针对磨削加工过程中对磨削区温度测量的需要研制了HWX—Ⅱ小目标红外测温仪。该仪器是一种能测量0.4×0.6mm~2小目标物体表面温度的非接触测温装置。测温范围为600-1700℃。温度分辨率1℃,时间响应<0.5秒。仪器采用了亮温法测温原理以取得足够的信噪比。探测系统为带二级半导体致冷器的PbS光导薄膜元件,二者封装在均热套内由精密恒温控制电路控制其处于恒定温度。光学调制频率400Hz。光学系统分聚焦及瞄准两部分,采用了折射式对称光学转象系统。探测器检出的调制信号经放大后分别送至光线示波器记录及送至同步检波器检波后显示。 本仪器可用于磨削区温度,钢丝焊接温度,显象管阴极温度,感应炉熔区温度的测
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