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| 用EELS和UPS研究非晶碳价电子特性 | |
| 引用本文： | 徐希翔.用EELS和UPS研究非晶碳价电子特性[J].科学通报,1987,32(2):104-104. |
| 作者姓名： | 徐希翔 |
| 作者单位： | 兰州大学物理系 (徐希翔，张仿清)，兰州大学物理系(陈光华) |
| 摘 要： | 一、引言 氢化非晶碳(a-C:H)是一种新型的薄膜材料,它不但具有类金刚石的结构和性质,而且能实现掺杂,呈现出较好的半导体特性,因此对这种材料的研究引起了人们极大的兴趣。但对这种材料的微观结构,特别是价电子键合特性和价带结构研究较少。我们运用电子能量损失谱EELS(Electron energy loss spectroscopy)和紫外光电子能谱UPS(ultraviolet photoelectron spectroscopy)等电子能谱测试手段,对a-C:H的价电子特性作了分析研究,并得到了一些有意义的结果。 |
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