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| X光衍射法测定Ni－P非晶合金超细微粒的晶化偏析 | |
| 引用本文： | 张卫华,范以宁,周哲民.X光衍射法测定Ni－P非晶合金超细微粒的晶化偏析[J].内蒙古民族大学学报(自然科学版),1996(1). |
| 作者姓名： | 张卫华 范以宁 周哲民 |
| 作者单位： | 南京大学，哲盟电大 |
| 基金项目： | 中国石化总公司基金南京大学现代分析中心测试基金 |
| 摘 要： | 利用Ｘ光衍射法对经５００℃晶化处理后的不同组成的Ｎｉ—Ｐ非晶合金超细微粒进行相定量研究，结果发现在晶化后的Ｎｉ—Ｐ样品中存在着不同程度的Ｐ的表面偏析，并且随着样品中Ｐ含量的减少，Ｐ的偏析量增加。 |
| 关 键 词： | Ni—P非晶合金超细微粒，晶化偏析，XRD相定量 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |