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用X射线光电子谱仪测量功函数变化的一种新方法
引用本文:冯敦平.用X射线光电子谱仪测量功函数变化的一种新方法[J].福州大学学报(自然科学版),1992(1):31-37.
作者姓名:冯敦平
作者单位:福州大学物理系
摘    要:本文介绍了利用X射线光电谱仪测量金属及半导体材料功函数变化的一种新方法,在能 量分析器外半球的负扫描高压端接入一正偏压,即可利用样品二次电子发射边在能量轴上的移动 量确定样品功函数的变化.方法简单易行、利用已知功函数的标准样品亦可测功函数的绝对值。

关 键 词:功函数  二次电子发射  nps

A New Method of Measuring Work Function Chanes by XPS
Fen Dunping.A New Method of Measuring Work Function Chanes by XPS[J].Journal of Fuzhou University(Natural Science Edition),1992(1):31-37.
Authors:Fen Dunping
Institution:Department of Physics
Abstract:
Keywords:XPS  work function  secondary emission edge
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