| 边界扫描结构的设计及仿真 |
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| 引用本文： | 罗涛,林明.边界扫描结构的设计及仿真[J].科学技术与工程,2011,11(2). |
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| 作者姓名： | 罗涛 林明 |
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| 作者单位： | 1. 江苏科技大学,镇江,212003
2. 南京理工湛世顺电子工程技术有限公司,南京,210014 |
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| 摘 要： | 在集成电路高速发展的今天，许多传统形式的测试技术受到越来越多的挑战。就测试技术本身而言，其作用和地位不再是集成电路生产的末端环节，而是作为一种前端环节对整个系统的设计都有着至关重要的作用，这就要求工程师在电路板设计之初就必须考虑后期的测试问题，即可测试性设计，边界扫描作为一种结构化的DFT技术，它的出现为集成电路板板级测试提供了一个更加先进和便捷的策略。该文剖析了支持边界扫描标准的芯片结构，并通过VHDL语言对其进行建模，完成边界扫描结构的软核设计及仿真。
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| 关 键 词： | 边界扫描 仿真 IEEE Std 1149.1 VHDL DFT |
| 收稿时间： | 2010/10/14 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2010/11/19 0:00:00 |
The Design and Stimulation of Boundary Scan's Structure |
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| LuoTao and LinMing.The Design and Stimulation of Boundary Scan's Structure[J].Science Technology and Engineering,2011,11(2). |
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| Authors: | LuoTao and LinMing |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | boundary scan stimulation IEEE Std 1149 1 VHDL DFT |
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