|
|||||
|
|
| 钼化合物EXAFS谱MoK吸收边临界能的研究 | |
| 引用本文： | 杨华惠,陈树勇.钼化合物EXAFS谱MoK吸收边临界能的研究[J].厦门大学学报(自然科学版),1986(5). |
| 作者姓名： | 杨华惠 陈树勇 |
| 作者单位： | 厦门大学化学系 (杨华惠)，厦门大学化学系(陈树勇) |
| 摘 要： | 研究X-射线吸收近边结构(X-Ray Absorption Near Edge Structure简称XANES)可以得到配位几何学、吸收原子价态等重要的结构信息。Cramer等人曾经研究过钼化合物的MoK X-射线吸收边的临界能及其影响因素,归纳为以“配位电荷”表示的经验公式。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |