| 氧化铝薄膜纳米孔的孔径对电解电压的依赖性 |
| |
| 引用本文： | 王为,巩运兰,王惠,郭鹤桐.氧化铝薄膜纳米孔的孔径对电解电压的依赖性[J].天津大学学报(自然科学与工程技术版),2005,38(3):229-232. |
| |
| 作者姓名： | 王为 巩运兰 王惠 郭鹤桐 |
| |
| 作者单位： | [1]天津大学化工学院,天津300072 [2]天津大学化工学院,天津300072／／天津商学院工学院,天津300134 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(50071040). |
| |
| 摘 要： | 为了确定电解电压与氧化铝薄膜纳米孔孔径之间的内在关系，以2％的磷酸为电解液，在40～150V的电解电压范围内，对铝基材实施阳极氧化制备了具有纳米孔结构氧化铝薄膜．用环境扫描电镜(ESEM)观察结果表明，阻挡层中微裂纹的产生是形成纳米孔的先决条件，微裂纹的长度决定了孔径的大小．微裂纹的长度由阻挡层中的内应力决定，内应力由γ-Al2O3，与金属铝基体的匹配度决定，匹配度由γ-Al2O3的晶粒尺寸决定．X射线衍射(xRD)的分析结果表明，电解电压决定了氧化铝薄膜中γ-Al2O3晶粒尺寸的大小．因此，电解电压决定了氧化铝薄膜纳米孔的孔径．
|
| 关 键 词： | 氧化铝薄膜 电解电压 内应力 微裂纹 孔径 |
| 文章编号： | 0493-2137(2005)03-0229-04 |
| 修稿时间： | 2004年9月6日 |
Dependence of the Pore Diameter of the Alumina Film with Nano-Pore Structure on Anodizing Voltage |
| |
| WANG Wei,GONG Yun-lan.Dependence of the Pore Diameter of the Alumina Film with Nano-Pore Structure on Anodizing Voltage[J].Journal of Tianjin University(Science and Technology),2005,38(3):229-232. |
| |
| Authors: | WANG Wei GONG Yun-lan |
| |
| Institution: | WANG Wei~1,GONG Yun-lan~ |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | alumina film anodizing voltage internal stress micro-crack pore diameter |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
