| 电子弹性散射探测28S核的质子晕 |
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| 引用本文： | 王再军,任中洲.电子弹性散射探测28S核的质子晕[J].中国科学(G辑),2003,33(5):385-392. |
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| 作者姓名： | 王再军 任中洲 |
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| 作者单位： | 1. 南京大学物理系,南京,210008
2. 南京大学物理系,南京,210008;兰州重离子加速器国家实验室原子核理论中心,兰州,730000 |
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| 基金项目： | 国家杰出青年基金(批准号: 10125521)、教育部博士点基金和国家重点基础发展规划基金(批准号: G2000077400)资助项目 |
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| 摘 要： | 在平面波Brown近似(PWBA)下, 研究了不稳定丰质子核28S的电子弹性散射过程. 计算并比较讨论了28S及其稳定同位素32S的电子弹性散射截面和形状因子. 结果显示28S的散射截面和形状因子在第2极小点附近(中等转移动量)对最外层的两个质子的电荷分布的变化非常敏感. 这表明用电子与不稳定核的弹性散射过程研究和探测丰质子核的质子晕结构可能是一种比较有效的方法.
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| 关 键 词： | 散射截面 形状因子 质子晕核 电子弹性散射 |
| 收稿时间： | 2003-07-23 |
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