红外光谱法检测LPEIn1—xGalxAsyP1—y晶体质量优劣的研究

通过红外光谱检测ＬＰＥＩｎＧａＡｓＰ材料带边发光强度和光谱线型的空间分布检测材料带边辐射复合效率和均匀性，对引起光致发光强度衰减及半谱半宽度起伏的物理原因进行了分析，并用Ｘ－射线双晶衍射的测量结果进行了对比，二者具有很好的一致性，实验结果证明，光致发光方法是判断ＬＰＥ晶体质量简单而有效的方法。