| 日照边缘区电离层对2003年10月28日大耀斑的响应 |
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| 作者姓名： | 张东和 萧佐 刘静 刘四清 龚建村 |
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| 作者单位： | 北京大学地球物理系,北京,100871;中国科学院空间环境与预报研究中心,北京,100080 |
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| 基金项目： | 本文为国家自然科学基金(批准号:40274053,40134020)和国家"973"(G2000078408)资助项目. |
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| 摘 要： | 利用国际GPS服务中心(IGS)的GPS观测数据, 分析了2003年10月28日特大耀斑期间日照边缘区域的电离层总电子含量(TEC)的响应特点. 计算结果表明, 这是有相关记录以来最强烈的一次电离层总电子含量突增事件, 在地面太阳天顶角80°到110°的空间范围内, 观测到了明显的由耀斑辐射引起的总电子含量突增. 在太阳天顶角90°区域的TEC增加值大约为7 TECU, 在110度附近的总电子含量的增加值大约在1~2 TECU. 总的来看, 太阳天顶角越大, TEC增幅越小, 但在天顶角大于90°的区域TEC随天顶角的减少的速度要大于天顶角90°以内的区域.
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| 关 键 词： | GPS TEC SITEC 耀斑 日照边缘区域 |
| 收稿时间： | 2004-02-04 |
| 修稿时间： | 2004-05-12 |
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