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微通道极电子冲刷研究
引用本文:周旭辉,刘世才,陈德炎,徐宗和.微通道极电子冲刷研究[J].南京理工大学学报(自然科学版),1993(4).
作者姓名:周旭辉  刘世才  陈德炎  徐宗和
作者单位:南京理工大学电子工程与光电技术学院 (周旭辉,刘世才,陈德炎),南京理工大学电子工程与光电技术学院(徐宗和)
摘    要:该文对应用于Ⅱ代微光像增强器的微通道板进行了电子冲刷和寿命实验的研究。介绍了专门研制的试验装置,对冲刷规程作了探讨并对测试结果进行了分析,得出了有益的结论。

关 键 词:电子  冲刷  寿命试验  规程  微通道板

Electronic Scrubbing Study of Microchannel Plates
Zhou Xuhui School of Electronic Engineering and Optoelectronic Technology.Electronic Scrubbing Study of Microchannel Plates[J].Journal of Nanjing University of Science and Technology(Nature Science),1993(4).
Authors:Zhou Xuhui School of Electronic Engineering and Optoelectronic Technology
Institution:Zhou Xuhui School of Electronic Engineering and Optoelectronic Technology
Abstract:This paper studies the electron scrubbing and life test ofmicrochannel plates by use of second generation image intensifiers,presents the apparatus specially designed for this test, inquires intothe scrubbing regulations, analyses the test recults, and draws a use-ful conclusion.
Keywords:electrons  scouring life tests  codes  microchannel plates
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