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Mg和Al共掺杂对CaCu3Ti4O12介电性能的影响
引用本文:李秋实,李新,丁茹,琚泽良,刘英洁,王彪,王森,刘高斌.Mg和Al共掺杂对CaCu3Ti4O12介电性能的影响[J].辽宁科技大学学报,2023(1):1-5.
作者姓名:李秋实  李新  丁茹  琚泽良  刘英洁  王彪  王森  刘高斌
作者单位:1. 辽宁科技大学材料与冶金学院;2. 辽宁科技大学理学院
摘    要:CaCu3Ti4O12(CCTO)具有较大的介电常数,在储能领域具有巨大的应用潜力,但高介电损耗却限制了其应用。本文采用固态法共掺杂Mg和Al元素,研究Al掺杂量对CCTO的介电常数、介电损耗和阻抗等物理性能的影响。实验结果表明,Mg和Al元素共掺杂,CCTO的晶格常数减小,衍射峰位向高角度偏移;随Al含量的增加,CCTO的介电常数明显减小,而介电损耗随频率、温度的提高先减小后增大,阻抗显著增大;在中低频、低温时,掺杂可有效降低介电损耗。

关 键 词:钛酸铜钙  介电常数  介电损耗  共掺杂
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