| (112)面CdTe/Cd1-yZnyTe,Hg1-xCdxTe/CdTe和CdTe/GaAs异质结的方向倾斜 |
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| 作者单位： | 刘义族（天津师范大学物理系，天津 300074）;于福聚（中国科学院上海技术物理研究所，上海 200083） |
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| 摘 要： | 用X射线双晶衍射(XDCD)法测得分子束外延(MBE)法生长的CdTe/Cd0.959Zn0.041Te(112)B异质结的倾斜角为0.2185°，而且朝［1-1-1］晶体学方向倾斜.为了获得较精确的倾斜角值，绘制了外延层和衬底衍射角的差值Δθ与绕样品表面法线旋转的角度φ之间的准正弦函数.为高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)分析制备了MBE法生长的Hg0.535Cd0.465Te/CdTe/GaAs(1-12)B多层异质结的横截面薄膜.CdTe/GaAs异质结的HRTEM明场象表明CdTe(1-12)缓冲层相对于GaAs(1-12)衬底朝［1-11-］方向倾斜约3°，并且在Hg0.535Cd0.465Te/CdTe异质结，Hg0.535Cd0.465Te(1-12)外延膜相对于CdTe(1-12)缓冲层在［11-1］方向，即［1-11-］的反方向倾斜约1°.也分析了Hg0.535Cd0.465Te/CdTe/GaAs多层膜之间的倾斜角关系.
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| 关 键 词： | 分子束外延；异质结；倾斜角 |
| 文章编号： | 0255-8297(2001)03-0261-04 |
| 修稿时间： | 2000-07-18 |
Oriental Shift at CdTe/Cd1-yZnyTe, Hg1-xCdxTe/CdTeand CdTe/GaAs Heterojunctions Grown on (112) plane |
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