| 基于机内测试( BIT) 的LCC 模型改进 |
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| 引用本文： | 董彦非,张恒喜,马新力. 基于机内测试( BIT) 的LCC 模型改进[J]. 空军工程大学学报(自然科学版), 2001, 2(4): 25-28 |
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| 作者姓名： | 董彦非 张恒喜 马新力 |
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| 作者单位： | 空军工程大学工程学院 陕西西安710038(董彦非，张恒喜)，空军工程大学工程学院 陕西西安710038(马新力) |
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| 基金项目： | 国防科技预研基金 (98J19 3 2 JB32 0 1) |
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| 摘 要： | 在分析原寿命周期费用（LCC）模型的基础上，给出了一种将机内测试（BIT）结合到电子系统LCC中的方法；推导了改进的LCC费用模型。该模型反映了采用BIT带来的益处，减少了维修时间、外部测试设备、备件等的需求量、以及对人员技术水平和预防性维修的要求。在改进的LCC模型中考虑了如下设计因素：诊断差错、诊断不明、未检测故障、BIT硬件故障和虚警等。
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| 关 键 词： | 寿命周期费用 机内测试 费用模型 电子系统 故障检测 BIT LCC模型 飞机 |
| 文章编号： | 1009-3516(2001)04-25-28 |
| 修稿时间： | 2000-10-06 |
Improved LCC Model in Terms of Built-in Test |
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| DONG Yan-fei,ZHANG Heng-xi,MA Xin-li. Improved LCC Model in Terms of Built-in Test[J]. Journal of Air Force Engineering University(Natural Science Edition), 2001, 2(4): 25-28 |
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| Authors: | DONG Yan-fei ZHANG Heng-xi MA Xin-li |
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| Affiliation: | The Engineering Institute of the Air Force Engineering University , Xi''an 710038 , China |
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| Abstract: | Based on the analysis of the original LCC model,a method is given for incorporating the effects of built-in test (BIT) into the life cycle cost of a given electronic system An improved LCC model is given that captures the savings achieved by BIT through reducing the maintenance times,complexity of external test equipment,personnel skill levels,amount of spare parts,and the need for preventive maintenance The model also includes such design considerations as false alarms,diagnostic errors,undetected faults,BIT hardware failures,and diagnostic ambiguity |
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| Keywords: | life cycle cost built-in test cost models electronic system |
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