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| 基于机内测试( BIT) 的LCC 模型改进 | |
| 作者姓名： | 董彦非 张恒喜 马新力 |
| 作者单位： | 空军工程大学工程学院;空军工程大学工程学院;空军工程大学工程学院 |
| 基金项目： | 国防科技预研基金 (98J19 3 2 JB32 0 1) |
| 摘 要： | 在分析原寿命周期费用（LCC）模型的基础上,给出了一种将机内测试（BIT）结合到电子系统LCC中的方法;推导了改进的LCC费用模型。该模型反映了采用BIT带来的益处,减少了维修时间、外部测试设备、备件等的需求量、以及对人员技术水平和预防性维修的要求。在改进的LCC模型中考虑了如下设计因素：诊断差错、诊断不明、未检测故障、BIT硬件故障和虚警等。 |
| 关 键 词： | 寿命周期费用 机内测试 费用模型 电子系统 |
| 文章编号： | 1009-3516(2001)04-25-28 |
| 修稿时间： | 2000-10-06 |
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