| 膜厚对三元混晶双层系中声子极化激元模的影响 |
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| 引用本文： | 包锦,LIANG Xi-xia. 膜厚对三元混晶双层系中声子极化激元模的影响[J]. 内蒙古大学学报(自然科学版), 2008, 39(4) |
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| 作者姓名： | 包锦 LIANG Xi-xia |
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| 作者单位： | 内蒙古大学物理科学与技术学院,呼和浩特,010021;内蒙古大学物理科学与技术学院,呼和浩特,010021 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金 , 内蒙古自治区自然科学基金重大项目 |
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| 摘 要： | 采用改进的无规元素等位移模型和玻恩-黄近似,运用电磁场的麦克斯韦方程和边界条件,研究了薄膜厚度对由极性三元混晶组成的双层薄膜系统中的表面和界面声子极化激元的影响.以GaAs/AlxGa1-xAs双层系统为例,获得了其中表面和界面声子极化激元作为膜厚之函数的数值结果并进行了讨论.结果指出:在双层系统的六支表面和界面声子极化激元模中,当两种薄膜材料的厚度均变化时,只有三支界面声子极化激元的频率随之变化,而另外三支表面声子极化激元的频率则几乎不变.而当只有其中一种薄膜材料的厚度发生变化时,则只对其与另一种薄膜材料界面处且位于此种材料的纵横光学声子频率区间内的界面极化激元的频率有影响,而对其他的表面和界面极化激元的频率则没有太大的影响.
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| 关 键 词： | 表面和界面声子极化激元 三元混晶 双层薄膜系统 |
Thickness Dependence of Phonon-polaritons in Bilayer Systems of Ternary Mixed Crystals |
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| BAO Jin,LIANG Xi-xia. Thickness Dependence of Phonon-polaritons in Bilayer Systems of Ternary Mixed Crystals[J]. Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Neimongol, 2008, 39(4) |
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| Authors: | BAO Jin LIANG Xi-xia |
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