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| 利用半导体激光衍射条纹测丝径和缝宽 | |
| 引用本文： | 许江勇,吴浪,林秋霞,杨建义,周波.利用半导体激光衍射条纹测丝径和缝宽[J].黔西南民族师范高等专科学校学报,2014(5):108-111. |
| 作者姓名： | 许江勇 吴浪 林秋霞 杨建义 周波 |
| 作者单位： | 兴义民族师范学院,贵州兴义562400 |
| 基金项目： | 贵州省高等学校教学内容和课程体系改革项目[黔教高发（2012）426号],贵州省大学生创新训练一般项目（201310666004）,兴义民族师范学院本科教学质量与教学改革工程项目【兴师发（2014）21号】. |
| 摘 要： | 根据惠更斯-菲涅耳原理,导出了衍射物尺寸与光波长、衍射距离、条纹级数和条纹偏距的参数方程,分析了半导体激光衍射条纹的光强分布规律,依此进行了实验验证。结果表明：可以利用半导体激光衍射条纹测量丝径和缝宽,测量值的准确度相当高,从而拓展了一种测量丝径和缝宽的新方法,为光学实验的创新教学提供了理论依据。 |
| 关 键 词： | 半导体激光 衍射条纹 丝径 缝宽 |
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