首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

GFAAS直接法测定钨产品中杂质元素
引用本文:杨秀环.GFAAS直接法测定钨产品中杂质元素[J].中山大学学报(自然科学版),1998,37(3):85-90.
作者姓名:杨秀环
作者单位:中山大学化学与化学工程学院,广东商检局二处
摘    要:用石墨炉原子吸收法直接测定钨产品中Al等12个杂质元素.考察了试样在各种溶解介质的溶解速度、效果、背景值、空白值及对各分析元素信号的影响,发现柠檬酸铵-氨水体系对各元素(除Al外)均适用,而Al最宜用酒石酸-氨水作溶解剂.研究了钨基体对各元素信号的影响及用钨涂层热解管消除干扰的方法,可用纯标准系列作校准曲线,方法检出限(μg/L,以3σ计)Al为1.43,As为0.65,Bi为3.69,Cd为0.06,Co为0.32,Cr为0.40,Cu为0.64,Mn为0.10,Ni为0.38,Pb为0.38,Sb为0.43和Sn为1.03.通过WO3标准样(BYG1201-1~3)的验证,其分析结果与推荐值吻合,相对标准偏差为1.2%~5.6%,实际样品的回收率在89%~110%之间.

关 键 词:石墨炉原子吸收光谱法,直接测定,钨产品,杂质元素,钨涂层热解管

Direct Determination of Impurity Elements in Tungsten Products with GFAAS
Yang XiuhuanLi Zixian,Tang Baoying,Zhang Zhanxia,He Bailing.Direct Determination of Impurity Elements in Tungsten Products with GFAAS[J].Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Sunyatseni,1998,37(3):85-90.
Authors:Yang XiuhuanLi Zixian  Tang Baoying  Zhang Zhanxia  He Bailing
Institution:Yang XiuhuanLi Zixian Tang Baoying Zhang Zhanxia He Bailing
Abstract:
Keywords:graphite furnace atomic absorption spectrometry  direct determination  tungsten product  impurity elements  tungsten  coated pyrolytic graphite tube
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号