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| 氧化锌压敏电阻不稳定性机理探讨 | |
| 引用本文： | 吴庆华 ,赵维义 ,白铁城.氧化锌压敏电阻不稳定性机理探讨[J].华中科技大学学报(自然科学版),1983(1). |
| 作者姓名： | 吴庆华 赵维义 白铁城 |
| 摘 要： | 本文研究氧化锌压敏电阻在连续交变电压作用下,在不同的温度和外加电压条件下漏电流随时间变化的规律.分析了氧化锌表面耗尽区中的正离子电荷及耗尽区边界扩散长度范围内空穴电荷在晶粒表面积累的物理过程.根据实验结果,提出漏电流不稳定性的机理是锌离子在晶粒表面积累,降低了氧化锌表面肖特基势垒的高度,使漏电流上升.文中简便地推导出漏电流上升的速率方程.实验还发现外加电压的频率增高时,漏电流上升的速率增大. |
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